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2015年10

冷场发射扫描电子显微镜


设备名称:冷场发射扫描电子显微镜

英文名称:Cold Field Emission Scanning Electron Microscope

生产厂家:JEOL LTD./JAPAN (日本电子株式会社/日本)

仪器型号:JSM-7500F

[附:Noran System 7能量色散谱仪(EDS);背散射电子探头(BEI)]

设备价格:35万美元,

性能参数:分辨率:1.0nm (15kV)/1.4nm (1kV);加速电压:0.1KV-30kV; 放大倍数:25-100万倍;EDS:Be-Fm,分辨率优于138 eV ( MnKa )

应用范围:

广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。是纳米材料粒径测试和形貌观察最有效的仪器。另外,该仪器还可以利用配置的X射线能谱仪对样品表面进行面、点、线微区分析,是研究材料结构、组成与性能关系所不可缺少的表征设备。